Precitec local:
Select Language:
Search
photovoltaics stories

客户案例 "光伏"

随着光伏技术成功的广泛应用,以具有竞争力的成本大批量生产太阳能电池变得尤为必要。Precitec的光学传感器在切片、磨片等工艺中快速采集海量数据以同时提供硅片厚度和表面信息,实时测量硅片生产中的许多关键指标。传感器光学系统的动态范围使其能精确地测量表面反射变化很大的电气引线的形貌。这些既可以在线也可以在实验室中应用。

SOLARZELLEN-WAFER BERÜHRUNGSLOS MESSEN

...AUCH FÜR VISUELL NICHT TRANSPARENTE MATERIALIEN VON EINER SEITE

Profilmessung (Topographie) mittels chromatisch-konfokalem Sensor

Wafer-Dickenmessung

Der CHRocodile MI5 Sensor misst die Schichtdicke von Silizium und GaAs-Materialien bis zu 1mm. Transparente Folien und Lacke können bis zu einer Schichtdicke von 2,5 mm gemessen werden. Der Sensor arbeitet mit Infrarotlicht und eignet sich perfekt für die berührungslose Dickenmessung auch visuell nicht transparenter Materialien von einer Seite. Für den Industriellen Einsatz können bis zu 5 Kanäle in einem 19˝ Einschub konfiguriert werden.

Die Vorteile der Wafer-Dickenmessung auf einen Blick:

  • Hochgenaue Dicken- und Abstandmessung von nur einer Seite
  • Gleichzeitige Messung an bis zu 5 Messstellen
  • Berührungsloses und zerstörungsfreies Messverfahren
  • Auch hochglänzende und wellige Oberflächen erfassbar
  • Variabler Messabstand 
  • Messrate: 4000 Messungen/Sekunde
  • Problemlos in den Fertigungsprozess integrierbar
  • Klein, robust und preiswert - kompaktes 19‘‘ Gehäuse
  • ohne nachträgliche Sensor-Kalibrierung

 

Precitec Sensoren eignen sich auch zur hochgenauen Vermessung von Fingern und Bus-Bars auf Solarzellen.

© 2019 Precitec Group