- großer Schichtdickenmessbereich
- polierte und raue Oberflächen
- visuell transparente und nicht transparente Materialien
- Messung von einer Seite
- Inline und Offline
- hohe laterale Auflösung
- Distanzmessung (optional)
- einfache Integration
- beschädigungsfreies Messen
- robust
- automatische Lichtregelung
- großes Messabstandstoleranzband
Produkt Familie CHRocodile IT
Die optischen Sensoren der CHRocodile IT – Familie arbeiten mit Infrarotlicht und eignen sich perfekt für die berührungslose Dickenmessung auch visuell nicht transparenter Materialien von einer Seite. Die verschiedenen Versionen garantieren die optimal passende Lösung für eine Vielzahl von Anwendungen. Wafer in allen Bearbeitungsstadien können in einem Dickenbereich von 10 µm - 3000 µm präzise offline und inline gemessen werden. Weitere Anwendungsbereiche sind die Dickenmessung von visuell opaken, wie auch transparenten Kunststoffprodukten.
- Messungen/Sekunde: 4000
- Interferometrischer Messbereich:
CHRocodile IT 500: 37 µm - 4700 µm; CHRocodile IT 1000: 64 µm - 8200 µm;
CHRocodile IT 500 RW: 45 µm - 5600 µm; CHRocodile IT 1000 RW: 57 µm – 7300 µm - Auflösung: 10-7 x max. Mesbereich (23 Bit)
- Reproduzierbarkeit: 10-4 x max. Messbereich
- Synchronisierung mit externen Geräten: Triggereingang, Synchronisationsausgang, 3 Encodereingänge

