NEMESIS WT
Chromatisches Messsystem Nemesis WT.

Deutliche Rationalisierungsmöglichkeiten bei der Fertigung dünnschichtiger Materialien wie SiC-Wafer und scheibenartiger Messproben bietet jetzt das neue Messsystem Nemesis WT.

Das System zur Dicken- und Topografieerkennung von transparenten und auch nichttransparenten Stoffen ist in der Lage, berührungslos und damit beschädigungsfrei, zeitgleich die Dicke und Rauheitswerte eines hochsensiblen Produktes exakt zu messen.

Nemesis WT

Das neue System arbeitet mit den chromatischen Weißlichtsensoren der neuen Produktfamilie CHRocodile von Precitec Optronik.

Weitere Informationen:

• Presseinformation: Einfache und berührungslose Dickenmessung jetzt auch von SiC-Wafern
• Datenblatt (Optische 3D-Messsysteme)

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