Eine sehr einfache und gleichzeitig hochgenaue Abstands- und Schichtdickenmessung von Wafern, Solarzellen und Modulen bietet das neue CHRocodile IT von Precitec Optronik. Es ist in der Lage, berührungslos mit nur einem Messkopf Silizium sehr exakt bis zu einer Dicke von 1 mm zu vermessen.
Hintergrund dieses neuen, zerstörungsfreien Messverfahrens ist ein interferometrisch arbeitender Sensor, der mit Infrarotlicht das Silizium durchleuchtet.
Das CHRocodile IT kann durch seinen robusten und einfachen Aufbau direkt in den Produktionsprozess integriert werden. Natürlich bietet sich das Gerät auch als kostengünstige und gleichzeitig hochpräzise Schichtdickenmessung im Labor an.


